Chroma bietet True Wireless Stereo-Testlösungen für eine hochwertige und kostengünstige Erprobung

Chroma ATE bringt neue Testsysteme für True
Wireless Stereo (TWS)-Chips auf den Markt, die drahtlose HF- und MCU-Tests als
auch digitale, analoge und gemischte Signalmessungen in einer Testlösung
abdecken. Die kostengünstigen Chroma 3380-Testsysteme stellen preisbewusste
IC-Entwickler zufrieden, während die fortschrittlichen Chroma 3680-Testsysteme
schnelle und umfassende Tests bieten, um innovative und hochempfindliche
TWS-Chiptestanforderungen zu erfüllen.

Die für TWS verwendeten Chips haben sich in den letzten Jahren immer mehr
durchgesetzt. Wurden sie in den ersten Jahren nur in Ohrhörer eingebaut, mit
einfachen ICs für Bluetooth- und Audiosignale, so werden TWS-Chips heute in
intelligenten Lautsprechern, drahtlosen Lautsprechern und sogar in Wearables
eingesetzt. Ebenso hat sich die Erprobung von TWS-Chips von rein drahtlosen
Bluetooth-, Digital- und Signaltests auch auf Stromversorgung, Speicher, Sensor
und mehr erweitert.

Chroma-ATE-Halbleitertestlösungen werden von der Industrie seit langem für ihren
hohen Grad an Software- und Hardware-Integration sowie für ihre qualitativ
hochwertigen digitalen und analogen Halbleitertests zu vertretbaren Preisen
anerkannt. Darüber hinaus nimmt die Serie Chroma 3380 eine führende Position auf
dem chinesischen MCU-Testmarkt ein. Die Serie Chroma 3380 bietet auch umfassende
Bluetooth-HF-Tests mit eingebauter Funktionalität, die ein
Signal-Rausch-Verhältnis von mehr als 90 dB bei Audiotests ermöglicht, um alle
Testanforderungen aus einer Hand zu erfüllen. Für anspruchsvolle und
hochempfindliche Produkte führt die Serie Chroma 3680
Hochgeschwindigkeits-Signaltests durch und liefert Spannungs- und Strommessungen
mit hoher Präzision. Dabei unterstützt ihr Mixed-Signal-Mess-Subsystem ein
Signal-Rausch-Verhältnis von über 110 dB. Die speziell entwickelte, schnell
anzuschließende bzw. zu lösende HF-Signalverbindungsschnittstelle verleiht den
Chroma 3680-Testsystemen eine hohe Stabilität bei der Erprobung von
Highend-TWS-Produkten.

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Jenny Liu
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